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2013-12-25 14:44:51
集成测试是为了构建一个更大的系统或平台，这个系统的几个部分通常是由不同的团队或甚至不同的公司开发的，以前在做信息化的软件开发时，面临的集成测试通常是不同软件子系统之间的集成测试，往往被这一阶段的测试搞得人仰马翻的，在从事了四年的视频监控和GPS软件开发之后，才知道，软硬件系统之间的集成测试更加折磨人的脆弱的神经。虽然两者本质上都是一样，软硬件系统集成实际上是嵌入式软件系统和常规的PC软件系统直接的集成。集成测试常常成为压垮复杂项目的最后一根稻草。主要存在的问题如下：
1.嵌入式软件开发团队和常规的软件开发团队，风格差别很大，从开发语言和技术，到思考处理问题的方式都有很大区别。从一开始，如何保证两个团队之间的充分沟通并相互信任是个问题，团队之间互相推诿，不担当的情况常常发生；
2.系统集成必然基于同一个约定，如软件接口，通信协议或规约，如果是第一次的合作开发，那么如何制定并保证接口和通信规约的稳定性，这个其实很难除非是我们都遵循成熟的国家标准或通用行业标准，如GPS通信协议JT/T808标准，否则研发初始自制的API和协议都是简单甚至是弱智的，随着软件开发的深入，对于功能和需求理解的越来越透彻，接口和协议不断的膨胀和变化，这种变化是那个团队发起的，如何和另一个团队进行协商，对于另外一个团队是否可行，在嵌入式系统上增加一个功能和在后端平台上增加一个功能所面临的的难度是一个天上一个地下，如何及时的固化到文档中去，如何制定一个合理有效的协商机制，都是在项目初始要确定下来的。
3.两个团队往往是并行开发，因为同属于一个大系统，所以有一个共同的项目计划和进度，大家在竭力完成自己的任务的时候，往往顾不得那边的情况，在节点汇合的时候，大家都声称自己完成了计划上的任务，开始测试了，实际情况是大家根本没有准备好，各自的单元测试和功能测试，进行的非常不充分，而留给双方共同的集成测试时间又非常的乐观。没有充分测试过的子系统在进行集成测试的时候，必然会暴露大量的问题，虽然这显得集成测试很必要，但是这些问题暴露的有点晚了，再返工修改，Rework的工作量很大，进度更加吃紧，而且有些问题本来可以避免掉，无须拿到成本昂贵的集成测试上进行。
4.集成测试并不意味着测试更充分或者覆盖面加大，我们拿到一个硬件系统，并不能像软件一样可以随心所欲的制造出一个有效用例来并且进行大量重复使用，例如要测试一个GPS软件的超速报警的功能，那测试用例设计时，必须要创造出一个车辆超速的动作环境，并触发终端报警上传到软件平台，这样一个用例还需要能够供测试人员反复调用。其他还有很多复杂的测试，如视频监控功能等测试。
5.压力不够。由于测试环境的搭建，都是基本单一的软硬件对测，再加上硬件测试环境搭建的成本和复杂性，难以模拟出真实大规模业务并发的环境，造成压力测试不够，很多都是测试人员骗领导，走走过场，真实的问题往往最后在上线后，接入大规模业务时出现。
如何能够做好软硬件集成测试呢?
1.多个开发团队要选择一些逻辑清晰有担当、能沟通的人来充当联络人，这个虽然有点滑稽，但是在出问题的时候，起的作用很大，没有逻辑，不敢担当的人，总是死咬着一句话，"我这边没问题"。出了问题不可怕，为什么要推诿老是找借口呢? 耽误其他团队时间，浪费口舌。
2.及早Mock, 模拟测试可以让我们在单元测试阶段，就可以进行便利的接口调用，保证我们的测试路径和测试面的充分覆盖，只不过硬件的Mock难度比较大，有一定的开发工作量。例如在GPS软件开发的时候，我们需要开发一个完整的GPS模拟终端，模拟GPS终端的数据发送和接收各种指令并进行应答的行为。很多人不用模拟终端，是因为开发一个完整808协议的模拟终端，实现录音、拍照、参数设置、媒体检索等Mock功能，没有一两个月搞不定。硬件测试的时候，也需要不断的检测自己的硬件发送的数据或指令是否正确，也需要Mock一个后端服务器来进行检验。
3.集成测试的用例设计起来，往往贯穿终端、无线网络、服务器软件、PC客户端软件，是一个复杂的流程测试，所以对于用例设计的是否充分，需要花点时间进行评审和讨论理解。这种测试用例，应当及早设计，成为照亮各个开发团队行进道路的航标。
4.充分估计测试的工作量，上面说到测试用例的设计，如果认真设计用例，这个测试的工作量其实很大。不要为了项目计划而压缩集成测试的周期。
总之，不要埋地雷，没有侥幸，问题总是会出现的，何不让它出现的早一点，代价小一点。
部标808测试平台(工具300元，源码800元)：
1.完整实现了808协议的全部命令，包括媒体检索、录音、拍照、区域设置、行车记录仪等命令；
2.日志记录，分为原始报文记录，下发命令和应答跟踪记录等详细记录；
3.应答数据入库，GPS数据入库，便于查询和跟踪。
4.转发服务，可以转发到其他平台进行跟踪；
5.在线连接监控；
6.GPS数据分析，油量、里程、停车、报警入库。
本文转载自：http://www.cnblogs.com/productivity/p/3154596.html
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硬件集成测试按照ISO26262-8：2011 Clause9 进行。
If ASIL decomposition is applied, the corresponding integration activities of the decomposed elements, and the subsequent activities, are applied at the ASIL before decomposition.
???如何理解
硬件集成测试的测试项目定义方法如表10所示。
1a: analysis of requirements 需求分析
1b: analysis of internal and external interfaces 内部和外部接口分析
1c: generation and analysis of equivalence classes 相同或类似产品的测试案例分析
1d: analysis of boundary values边界值分析
1e: knowledage or experience based error guessing可能出现的问题经验分析
1f: analysis of functional dependencies功能相关性分析
1g: analysis of common limit conditions, sequences and sources of dependent failures常规极限条件、序列、失效相关源
1h: analysis of environmental conditions and operational use cases环境条件和正常工作情况分析
1i: standards if existing标准
1j: analysis of significant variants最大版本分析，包括通过worst case计算得到的最坏情况结果
硬件测试种类
为了验证与硬件安全需求相关的安全机制被完整且正确地实施的硬件集成测试方法包括：功能测试、电测、错误注入测试。其中功能测试和电测必须执行，而错误注入测试只针对ASIL C和ASIL D的要求下，推荐执行。如表11所示。
为了验证外接压力条件下硬件可靠性的测试包括：环境测试、扩展功能测试、统计测试、最坏情况测试、超限值测试、机械测试、加速生命测试、机械耐久测试、EMC和ESD测试、化学测试。如表12所示。
1a: 环境测试，依据规范是ISO 16750-4。
1b: 扩展功能测试：检查当输入的条件可以预见为几乎不发生时或超出硬件的说明书规定时的功能表现。例如超过预设计的参数值或错误的命令。
1c: 统计测试：当输入数据选择为按照实际设计的参数值期望的静态分布时，测试硬件元器件。并定义可接受的标准，以便验证需要的失效率被满足。例如，50个晶振的jitter测试。
1d: 最差情况测试：目的在于验证在worst-case分析计算过程中发现的测试案例，例如AOT。
1e: 超限值测试：测试环境或者功能约束的严重度不断逐渐增加直到停止工作或损坏。目的是为了决定元器件可靠性的裕量。
1f: 机械测试：机械冲击等.
1g: 加速生命测试：即耐久测试。通过加速模型，模拟产品生命周期内环境因素对产品性能的影响，例如高温耐久、温度循环、温湿度耐久等。
1h: 机械耐久
1i: EMC和ESD测试：EMC测试标准包括ISO7637-2， ISO7637-3， ISO10605， ISO11452-4， ESD测试标准包括ISO16750-2.
1j: 化学测试：标准未ISO 16750-5.
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作者：pianpian_zct
来源：CSDN
原文：https://blog.csdn.net/pianpian_zct/article/details/79033023
版权声明：本文为博主原创文章，转载请附上博文链接！
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2018-07-10 16:25:15全文全部转自：...硬件集成测试按照ISO26262-8：2011 ...展开全文全文全部转自：https://blog.csdn.net/pianpian_zct/article/details/79033023
Hardware integration and testing activities shall be performed in accordance with ISO 26262-8: 2011, Clause 9.
硬件集成测试按照ISO26262-8：2011 Clause9 进行。
If ASIL decomposition is applied, the corresponding integration activities of the decomposed elements, and the subsequent activities, are applied at the ASIL before decomposition.
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1b: analysis of internal and external interfaces 内部和外部接口分析
1c: generation and analysis of equivalence classes 相同或类似产品的测试案例分析
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为了验证外接压力条件下硬件可靠性的测试包括：环境测试、扩展功能测试、统计测试、最坏情况测试、超限值测试、机械测试、加速生命测试、机械耐久测试、EMC和ESD测试、化学测试。如表12所示。
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1d: 最差情况测试：目的在于验证在worst-case分析计算过程中发现的测试案例，例如AOT。
1e: 超限值测试：测试环境或者功能约束的严重度不断逐渐增加直到停止工作或损坏。目的是为了决定元器件可靠性的裕量。
1f: 机械测试：机械冲击等.
1g: 加速生命测试：即耐久测试。通过加速模型，模拟产品生命周期内环境因素对产品性能的影响，例如高温耐久、温度循环、温湿度耐久等。
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