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  • 本文主要讲了一下关于八位移位寄存器vhdl程序设计,希望对你的学习有所帮助。
  • 计算机组成原理上机报告,Verilog语言实现8位移位寄存器,并且仿真波形。实验环境为Quartus II,编程语言Verilog,文档排版使用LaTeX,内附LaTeX源文件,可修改。
  • 用两片74LS194接成八位双向移位寄存器实验电路multisim源文件,multisim10及以上版本可以正常打开仿真,是教材上的电路,可以直接仿真,方便大家学习。
  • 八位全加器用移位寄存器作的,采用调用形式写成,
  • 移位寄存器

    2014-05-12 23:11:54
    八位移位寄存器,输出为向量的低位数值,vhdl实现。
  • 目前常用的集成移位寄存器种类很多,如74164、74165、74166均为八位单向移位寄存器,74195为四位单向移存器,74194为四位双向移存器,74198为八位双向移存器。
  • 计算机组成原理——移位寄存器实验报告

    万次阅读 多人点赞 2019-01-28 17:03:07
    第一部分 移位寄存器实验 一、实验目的 验证移位寄存器的组合功能。 二、实验内容 1、实验原理 移位运算实验原理如图1.1所示。移位运算实验原理如图3-4所示,使用了一片74LS299(U34)作为...

     

    第一部分  移位寄存器实验

    一、实验目的

    验证移位寄存器的组合功能。

    二、实验内容

    1、实验原理

    移位运算实验原理如图1.1所示。移位运算实验原理如图3-4所示,使用了一片74LS299(U34)作为移位发生器,其八位输入/输出端通过74LS245引到总线,JA4接通时输出到总线。299B`信号由开关299B提供,控制其使能端,T4为其时钟脉冲,手动方式实验时将T4与手动脉发生器输出端SD相连,即J23跳线器上T4连SD。由信号S0 、S1、 M控制其功能状态,详细见表1.1。

     

     

     

     

     

     

     

     

     

     

     

     

     

     

     

     

     

     

     

     

     

     

     

     

     

     

     

     

     

     

     

     

     

     

     

    图1.1  移位运算实验原理图

    2、实验接线

    1. J20,J21,J22,接上短路片;
    2. J24,J25,J26接左边;
    3. J27,J28 右边;
    4. J23 置右边T4选“ SD”
    5. JA5  置“接通”;
    6. JA6  置“手动”;
    7. JA3,JA4 置“接通”
    8. JA1,JA2,置“高阻”;
    9. JA8 置上面“微地址”
    10. EXJ1接BUS3
    11. CE、ALU_B 置“1”
    12. 299B 置“0”
    13. 总清开关拨到“1”位置。

    3、实验步骤

    ① 连接实验线路,仔细查线无误后接通电源。

    ② 置数,具体步骤如下:

     

     

     

     

     

    ③ 移位,参照表4.1改变S0、 S1、 M、 299B 的状态,按动手动脉冲开关以产生时钟脉冲T4,观察移位结果。

    四、实验数据记录

    1、移位寄存器初始数据为:35H(CY=0)

    第1次按动手动脉冲开关,移位寄存器数据为:

    第2次按动手动脉冲开关,移位寄存器数据为:

    第3次按动手动脉冲开关,移位寄存器数据为:

    第4次按动手动脉冲开关,移位寄存器数据为:

    第5次按动手动脉冲开关,移位寄存器数据为:

     

    299B

    S1

    S0

    M

    移位操作

    理论计算结果

    移位后结果

    CY

    *

    1

    1

    *

    装数

    00110101(35H)

       35H

    0

    0

    0

    0

    *

    保持

    00110101(35H)

     35H

    0

    0

    1

    0

    0

    循环右移

    10011010(9AH)

    9AH

    0

    0

    1

    0

    1

    带进位循环右移

    01001101(4DH)

    4DH

    0

    0

    0

    1

    0

    循环左移

    10011010(9AH)

    9AH

    0

    0

    0

    1

    1

    带进位循环左移

    00110100(34H)

    34H

    1

     

    2、实验结果记录表

    置入移位寄存器数据

    进位

    Cy

    299B S1 S0 M

    移位操作

    移位后结果

    理论计算结果

     

     

      

              

    9AH

    0

     

    0  0  1  0

    循环左移

    35H

    35H

    1

    循环左移

    35H

    35H

    0

     

    0  0  1  1

    带进位循环左移

    34H

    34H

    1

    带进位循环左移

    35H

    35H

    0

     

    0  1  0  0

    循环右移

    4DH

    4DH

    1

    循环右移

    4DH

    4DH

    0

     

    0  1  0  1

    带进位循环右移

    4DH

    4DH

    1

    带进位循环右移

    CDH

    CDH

     

     

     

    以自己的学号后两位作为输入数据

    置入移位寄存器数据

    进位

    Cy

    299B S1 S0 M

    移位操作

    移位后结果

    理论计算结果

     

     

      

              

    25H

    0

     

    0  0  1  0

    循环左移

    4AH

    4AH

    1

    循环左移

    4AH

    4AH

    0

     

    0  0  1  1

    带进位循环左移

    4AH

    4AH

    1

    带进位循环左移

    4BH

    4BH

    0

     

    0  1  0  0

    循环右移

    92H

    92H

    1

    循环右移

    92H

    92H

    0

     

    0  1  0  1

    带进位循环右移

    12H

    12H

    1

    带进位循环右移

    92H

    92H

     

    五、实验结果分析及总结

    做实验时是按书上的步骤一步一步来,也没想为什么,写实验报告时,明白了每一步为什么那样做,比如做实验时令S1、S0都为1时根据表1.1功能是装数,可是就是不明白什么叫装数,写实验报告时,我明白了,就是将你想要置入通用寄存器的数据装入,我们的结果是FF,因为数据开关什么都没置,所以随机显示为FF。在一次次的重复实验中,复杂的理论理解了也记住了。

    、思考题

    若移位寄存器存放一个8位数,通过怎样的移位运算后可使移位寄存器存放的数据保持不变?

        答:循环左移8*n次或循环右移8*n次,n为整数时可使其数据不变。

     

     

     

     

     

     

     

     

     

     

     

     

     

    第二部分  存储器实验

    一、实验目的

    掌握静态随机存取存储器RAM工作特性及数据的读写方法。

    二、实验内容

    1、实验原理

    主存储器单元电路主要用于存放实验机的机器指令,如图3—5所示,它的数据总线挂在外部数据总线EXD0~EXD7上;它的地址总线由地址寄存器单元电路中的地址寄存器74LS273(U37)给出,地址值由8个LED灯LAD0~LAD7显示,高电平亮,低电平灭;在手动方式下,输入数据由8位数据开关KD0~KD7提供,并经一三态门74LS245(U51)连至外部数据总线EXD0~EXD7,实验时将外部数据总线EXD0~EXD7用8芯排线连到内部数据总线BUSD0~BUSD7,分时给出地址和数据。它的读信号直接接地;它的写信号和片选信号由写入方式确定。该存储器中机器指令的读写分手动和自动两种方式。手动方式下 ,写信号由W/R` 提供,片选信号由CE`提供;自动方式下,写信号由控制CPU的P1.2提供,片选信号由控制CPU的P1.1提供。

    由于地址寄存器为8位,故接入6264的地址为A0~A7,而高4位A8~A12接地,所以其实际使用容量为256字节。6264有四个控制线:CS1第一片选线、CS2第二片选线、OE读线、WE写线。其功能如表3—4所示。CS1片选线由CE`控制(对应开关CE)、OE读线直接接地、WE写线由W/R`控制(对应开关WE)、CS2直接接+5V。

    图中信号线LDAR由开关LDAR提供,手动方式实验时,跳线器LDAR拨在左边,脉冲信号T3由实验机上时序电路模块TS3提供,实验时只需将J22跳线器连上即可,T3的脉冲宽度可调。

    2、实验接线

    1. 总清开关拨到“1”位置。
    2. J20,J21,J22,接上短路片;
    3. J23,J24,J25,J26接左边;
    4. J27,J28 右边;
    5. JA5  置“接通”;
    6. JA6  置“手动”;
    7. JA1,JA2,JA3,JA4置“高阻”;
    8. JA8 置上面“微地址”;
    9. EXJ1接BUS3

     

     

     

     

     

     

     

     

     

     

     

     

     

     

     

     

     

     

     

     

     

     

     

     

     

     

     

     

     

     

     

    图2.1   主存储器单元电路

    表2.1  6264功能表

    工作

    方式

    I/O

    输入

    DI

    DO

    /OE

    /WE

    /CS1

    非选择

    X

    HIGH-Z

    X

    X

    H

    读出

    HIGH-Z

    DO

    L

    H

    L

    写入

    DI

    HIGH-Z

    H

    L

    L

    写入

    DI

    HIGH-Z

    L

    L

    L

    选择

    X

    HIGH-Z

    H

    H

    L

    3、实验预习

    (1)根据实验原理详细接线如下:①EXJ1连   BUS3   ;②跳线器J22上T3连   SD   ;③跳线器SWB、CE、WE、LDAR拨在  左  (左/右)边(手动方式);

    (2)连接线路,仔细查线无误后,接通电源。

    (3) 形成时钟脉冲信号T3,方法如下:在时序电路模块中有两个二进制开关"运行控制"和"运行方式"。将"运行控制"开关置为"  运行     "状态、"运行方式"开关置为" 连续      "状态时,按动" 运行启动       "开关,则T3有连续的方波信号输出,此时调节电位器 w1      ,用示波器观察,使T3输出实验要求的脉冲信号;本实验中"运行方式"开关置为" 单步    "状态,每按动一次"          运行启动"开关,则T3输出一个正单脉冲,其脉冲宽度与连续方式相同。

    (4)向存储器中写入数据,具体操作步骤分两步完成:

    注意:向存储器的地址单元中写入数据时,一定要先送 地址 ,再送 数据

    ①先通过输入开关向AR中置入存储单元的地址。

    将存储器地址送入AR:置KD0-KD7为00000001,置SWB= 0     ,CE= 1     ,打开输入三态门,然后置LDAR= 1     ,按动  手动脉冲    开关,则T3输出一个正单脉冲,将数据置入AR。

    ②再向RAM的存储单元中置入数据。

    置KD0-KD7为00010000,置SWB= 0     ,LDAR=  0     ,打开输入三态门,然后置CE= 0    ,WE=  1    ,使存储器写有效,按动手动脉冲     开关,则T3输出一个正单脉冲,将数据置入存储器RAM。

    (5)读出写入地址单元的内容,观察内容是否与写入的一致。具体操作步骤如下:

    ①将存储器地址送入AR:置KD0-KD7为00000001,置SWB= 0    ,CE= 1     ,打开输入三态门,然后置LDAR=  1  ,打开AR输入控制开关,按动       手动脉冲开关,则T3输出一个正单脉冲,将数据置入AR。

    ②置SWB= 1    ,CE=  0    ,关闭输入三态门,置LDAR=  0    ,关闭AR输入控制开关,置WE=  0     ,使存储器读有效。则通过LZD0-LZD7可观察读出结果。

    4、实验步骤

    ① 连接实验线路,仔细查线无误后接通电源。

    ② 形成时钟脉冲信号T3。方法如下:在时序电路模块中有两个二进制开关“运行控制”和“运行方式”。将“运行控制”开关置为“运行”状态、“运行方式”开关置为“连续”状态时,按动“运行启动”开关,则T3有连续的方波信号输出,此时调节电位器W1,用示波器观察,使T3输出实验要求的脉冲信号;本实验中“运行方式”开关置为“单步”状态,每按动一次“启动运行”开关,则T3输出一个正单脉冲,其脉冲宽度与连续方式相同。

    ③ 向存储器的00地址单元中写入数据11,具体操作步骤如下:

     

     

     

     

     

     

     

     

     

    如果要对其它地址单元写入内容,方法同上,只是输入的地址和内容不同。

    ④ 读出刚才写入00地址单元的内容,观察内容是否与写入的一致。具体操作步骤如下:

     

     

     

     

     

     

     

     

     

    ⑤ 以自己的学号后两位为数据,以同组同学的学号后两位为地址,按以上步骤操作验证。写出具体步骤。

    答:向存储器的29地址单元中写入数据25,

    具体步骤如下:

     

     

     

     

     

     

    读出刚才写入29地址单元的内容,观察内容是否与写入的一致。具体操作步骤如下:

     

     

     

     

     

     

     

     

    三、实验数据记录

    1、根据存储器的读写原理,填写下表。

    控制信号

    写地址            写内容            读内容

    SWB开关

    0                  0                 1

    LDAR 开关

    1                  0                 0

    CE 开关 

        1                  0                 0

    WE开关 

        0                  1                 0   

    1. 记录向存储器写入数据的操作过程。

    按照前面介绍的实验步骤向存储器地址为00H, 01H,02H,03H,04H,05H的单元分别写入数据:55H,33H,44H,66H,08H,F0H。

    3、写出读出存储器单元内容的操作过程并记录以下地址单元读出的内容。

    地址

    内容

    地址

    内容

    00000000

    55H

    00000100

    08H

    00000001

    33H

    00000101

    F0H

    00000010

    44H

    00001000

    00H

    00000011

    66H

    00000100

    08H

     

    • 根据电路图分析向存储器置数和从存储器读数的工作原理。

        存储器是计算机的主要部件,用来保存程序与数据。从工作方式上分类,存储器可以分为动态存储器保存信息的时间只有2ms,工作时需要不断更新,既不断刷新数据静态存储器只有不断电,信息是不会丢失的。

    向存储器置数:首先将要存放数据的内存地址传输到MAR中,通过地址总线在内存中找打相应地质信息,然后将数据传输到MDR中,最后通过数据总线将数据存放在制定的内存地址中,完成向存储器置数。

    从存储器读数:首先将存放数据的内存地址传输到MAR中,通过地址总线在内存中找到相应的地质位置,通过数据总线将数据传输到MDR中,最后通过指示灯得知该存储单元中的数据。

    五、实验总结

    根据实验步骤很快完成了实验,掌握了存储器的工作原理及控制方法。通过这次实验我初步学习了解了存储器的工作特性,也熟悉了静态存储器的操作过程,进一步也验证了存储器的读写方法。之前只是在书本上学习存储器读写的操作,现在通过操作自己亲身体会了这个过程,使我们更加理解了存储器读写的过程。明白了理论课程的重要性,当我把理论知识弄明白了之后,实验做起来就容易的多了。

    、思考题

    1、存储器的地址是放在哪个芯片中的,为什么在输入地址时,控制开关CE=1、       LDAR=1?

    答:动态存储器芯片,关掉存储器的片选(CE=1),打开地址锁存门控信号(LDAR=1),由开关给出要写入的存储单元地址,T3产生一正向脉冲将地址打入到地址锁存器。

    当CE=1时,芯片被选中,可进行读/写操作,否则芯片没被选中,不能进行读/写操作。

    当LDAR=1时,将单元的地址送到地址寄存器中。

    2、在读存储器内容时控制信号SWB=1、CE=0、WE=0、LDAR=0的含义是什么?

    关掉地址锁存器门控信号(LDAR=0),关掉数据开关三态门(SWB=1),关掉存储器的片选(CE=0),使之处于读状态(WE=0),此时数据总线上显示的数据即为存储器当前地址中独处的数据内容。

    SWB:数据输入开关可用来设置地址或数据。控制信号为逻辑“1”时有效(开关拨向上方),否则无效;

    CE:当CE=0时,芯片未被选中;

    WE:当WE=0时,进行读操作;

    LDAR:当LDAR=0时,将单元的数据读出到数据总线。

     

     

     

     

     

     

    第三部分 数据通路实验

    一、实验目的

    1、理解数据通路的概念及特性。

    2、掌握数据通路传输控制特性。

    二、实验内容

    1、实验原理

    数据通路就是将不同的设备,如存储器、输入设备、输出设备、寄存器等连至总线上。这些设备的输出都需要三态输出控制,如按照传输要求恰当有序的控制它们,便可以实现数据通路的传输。实验框图如图3.1所示。

     

     

     

     

     

     

     

    图3.1  数据通路的框图

    2、实验接线

    1. J20,J21,J22,接上短路片;
    2. J24,J25,J26接左边;
    3. J27,J28 右边;
    4. J23 置右边T4选“ SD”
    5. JA5  置“接通”;
    6. JA6  置“手动”;
    7. JA3,JA4 置“接通”
    8. JA1,JA2,置“高阻”;
    9. JA8 置上面“微地址”
    10. EXJ1接BUS3
    11. CE、ALU_B 置“1”
    12. 299B 置“0”

    3、实验步骤

    ① 连接实验线路,仔细查线无误后接通电源。

    ② 初始状态设为:关闭所有三态门(SWB=1,CE=1),其它控制信号为LDAR=0,WE=0,OUTWR=1。

    ③在运算器实验中,运算器的输入数据由8位数据开关KD0-KD7提供。数据通路实验中要求运算器的输入数据由存储器来提供。

    首先将存储器中置入数据,然后进行存储器读操作,并将读出的数据打入数据寄存器DR1或DR2,再完成8位算术逻辑运算、带进位的8位算术逻辑运算以及移位运算器实验。具体实验连线及步骤

    (1)根据实验原理详细接线如下:EXJ1连  BUS3  ;ALUBUS连   EXJ1  ;跳线器J23上T4连  SD  ;跳线器SWB、CE、WE、LDAR拨在   左  (左/右)边(手动方式);LDDR1、LDDR2、ALUB、SWB、AR、299B六个跳线器拨在       (左/右)边(手动方式);J25跳线器拨在右边;系统总清开关拨在"  1  "(0/1)电平。

    (2)仔细查线无误后,接通电源。

    初始值设置如下:SWB=   1  ,关数据输入三态门;ALUB=   1  ,关运算器输出三态门;AR=  0  ,使电平控制信号无效;299B=  0  ,使移位寄存器使能端无效;CE=  0  ,使存储器片选信号无效;LDAR=  0  ,使地址寄存器使能端无效;LDDR1=  0 ,LDDR2=  0  ,使两个数据寄存器使能端无效。

    1. 将表3-1中一组数据送入存储器对应存储单元。

    表3-1

    主存地址

    对应数据

    01H

    10H

    02H

    35H

    10H

    48H

    11H

    55H

    20H

    AAH

     

    (4)读出存储器中的数据。具体操作步骤如下:

    (a)将存储器地址送入AR:置KD0-KD7为00000010,置SWB=  0 ,CE=  1  ,打开输入三态门,然后置LDAR=   1  ,打开AR输入控制开关,按动   T3   开关,则T3输出一个正单脉冲,将数据置入AR。

    (b)置SWB=  1  ,CE=  0  ,关闭输入三态门,置LDAR=   0  ,关闭AR输入控制开关,置WE=  0  ,使存储器读有效。则通过LZD0-LZD7可观察读出结果。

    (5)将读出的数据分别送到DR1和DR2寄存器。置LDDR1=   1  ,打开DR1输入控制开关,按动    T4    开关,将数据置入DR1寄存器。

    用同样的方法,将00010000单元的内容送入DR2寄存器。

    (6)检验DR1和DR2中存入的数据是否正确,利用算术逻辑运算功能发生器 74LS181的逻辑功能,即M= 1 。具体操作为:关闭数据输入三态门SWB`=  1 ,打开ALU输出三态门ALUB`= 0  ,当置S3、S2、S1、S0、M为 11111 时,总线指示灯显示  DR1  中的数,而置成 10101 时总线指示灯显示  DR2  中的数。

    (7)以存储器中数据作为运算器数据来源,验证74LS181的算术运算和逻辑运算功能(采用正逻辑)。

    改变算术逻辑运算功能发生器的功能设置,观察运算器的输出,填入表3-3中,并和理论分析进行比较、验证。

    表3-3

    DR1

    DR2

    S3 S2 S1 S0

    M=0(算术运算)

    M=1(逻辑运算)

    Cn=1

    无进位

    Cn=0

    有进位

    35H

    48H

    0 0 0 0

    35H

    36H

    CAH

    0 0 1 0

    B7H

    B8H

    48H

    0 0 1 1

    FFH

    00H

    00H

    0 1 1 0

    ECH

    EDH

    7DH

    1 0 0 1

    7DH

    7EH

    82H

    1 0 1 1

    FFH

    00H

    00H

    1 1 1 1

    34H

    35H

    35H

    (8)以存储器中数据作为运算器数据来源,验证移位运算器功能

     (a)重复第(3)步,将存储器01H单元的内容从存储器读出。

     (b)将读出的数据送到移位寄存器。

    置ALUB=  1  ,关闭运算器输出,置299B=  0  ,打开移位寄存器控制开关。置S0=  1  ,S1=  1  ,按动  T4   开关,将数据置入移位寄存器。                                                                                                                            

    (c)移位,参照表1-2改变S0、S1、M、299B的状态,拨动手动脉冲开关以产生时钟脉冲T4,将移位结果填入表3-4,并和理论分析进行比较、验证。

    表3-4

    移位寄存器数值

    299B

    S1

    S0

    M

    移位结果

    00010000

     

    0

    1

    0

    0

    0FH

    0

    0

    1

    0

    20H

    三、实验数据记录

    1. 画出实验过程中的数据通路。

    01H                      装入

     

    步骤: 读数据

               KD7—KD0       SWB=0  LDAR=1       AR      SWB=1  LDAR=0

    输地址 CE=1    T3 CE=0   WE=0

                

    ALU-B=1  SWB=1                ALU-B=SWB=1

                    CE=0  299B=0                    CE=1 299B=0

    LDZ7—LDZ0    S1=S0=1  T4            299          接T4             

                       将内存01H内的数据                验证299中内容

                       10H打到299B中                   S1=1  S0=0  M=O

              299

     

    1. 记录数据的传输过程。

    数据的传输过程:首先把地址信息写入到地址寄存器AR中,并把每个地址所对应的数据内容写入到存储器RAM中,通过运算器对存储在里面的数据进行运算,观察数据的输出结果。

    四、根据实验结果分析数据在数据通路中的传输过程。

    (1)、首先把地址数据存入到地址寄存器AR中;

    (2)、把这个地址中对应的数据信息存入到存储器RAM中;

    (3)、在进行算术运算、逻辑运算或移位运算时,输入想要进行操作的地址单元,然后调用里面的数据内容,对内容进行操作并观察输出结果。

    • 实验总结

       本次实验是相对于前几次实验的综合性操作,连接实验线路,控制相应控制开关,将存储器中置入数据,然后进行存储器读操作,并将读出的数据打入数据寄存器DR1或DR2,再完成8位算术逻辑运算、带进位的8位算术逻辑运算以及移位运算器实验。在此次实验中需要理解数据如何在通路中进行传输,以及画出相应的数据通路图。在实验中因为结合了前两次的实验操作,所以在操作的过程中只需注意前几次操作所犯的错误并加以改正即可。

    、思考题

    1. 实验步骤③中输入的两个数据分别表示什么?有什么不同?

    答:第一个输入数据表示的地址单元,第二个输入数据表示的是存入到该地址单元的数据内容。区别在于地址单元保存到地址寄存器AR中,数据信息保存到RAM中,在调用时只需输入地址信息,就可以看到里面所保存的数据内容,并对此进行操作。

    2、若不采用输出到数码管上显示,有否方法可验证写入存储器单元的内容是否正确。

    答:DVCC实验机能很好地完成计算机硬件系统各功能部件的教学实验,它包括运算器部件、控制器部件、主存储器部件、总线和几种最重要的外设接口实验,包括中断、定时计数器、输入/输出接口等,在相应软件的配合下,将各功能部件有机的结合起来,完成计算机整机的实验。通过它能体现出重要教学内容、能完成主要教学实验项目。在基本系统上支持多项扩展功能,它包括一个在系统大规模可编程器件,一个并行接口电路。 DVCC系列实验系统可支持高级与初级两个层次上两种方式的实验,高层次的实验方式是指DVCC系列机与PC微机连起来运行,可以动态显示整个实验过程中数据流的流向和当前的各种。因此除了采用输出到数码管上显示,没有其他方法可以验证写入存储器单元的内容是否正确。

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  • 74ls595 (8位输出锁存移位寄存器)的使用方法 7 推荐 单片机与74LS595(8位输出锁存移位寄存器)的使用方法   74595的数据端: QA--QH: 八位并行输出端,可以直接控制数码管的8个段。 QH': 级联输出端。我将...

    74ls595 (8位输出锁存移位寄存器)的使用方法
    7
    推荐
    单片机与74LS595(8位输出锁存移位寄存器)的使用方法
     
    <>google_render_ad(); 
    74595的数据端:
    QA--QH: 八位并行输出端,可以直接控制数码管的8个段。
    QH': 级联输出端。我将它接下一个595的SI端。
    SI: 串行数据输入端。


    74595的控制端说明:
    /SCLR(10脚): 低点平时将移位寄存器的数据清零。通常我将它接Vcc。
    SCK(11脚):上升沿时数据寄存器的数据移位。QA-->QB-->QC-->...-->QH;下降沿移位寄存器数据不变。(脉冲宽度:5V时,大于几十纳秒就行了。我通常都选微秒级)
    RCK(12脚):上升沿时移位寄存器的数据进入数据存储寄存器,下降沿时存储寄存器数据不变。通常我将RCK置为低点平,当移位结束后,在RCK端产生一个正脉冲(5V时,大于几十纳秒就行了。我通常都选微秒级),更新显示数据。
    /G(13脚): 高电平时禁止输出(高阻态)。如果单片机的引脚不紧张,用一个引脚控制它,可以方便地产生闪烁和熄灭效果。比通过数据端移位控制要省时省力。


    注:
    1)74164和74595功能相仿,都是8位串行输入转并行输出移位寄存器。74164的驱动电流(25mA)比74595(35mA)的要小,14脚封装,体积也小一些。
    2)74595的主要优点是具有数据存储寄存器,在移位的过程中,输出端的数据可以保持不变。这在串行速度慢的场合很有用处,数码管没有闪烁感。
    3)595是串入并出带有锁存功能移位寄存器,它的使用方法很简单,在正常使用时SCLR为高电平, G为低电平。从SER每输入一位数据,串行输595是串入并出带有锁存功能移位寄存器,它的使用方法很简单,如下面的真值表,在正常使用时SCLR为高电平, G为低电平。从SER每输入一位数据,串行输入时钟SCK上升沿有效一次,直到八位数据输入完毕,输出时钟上升沿有效一次,此时,输入的数据就被送到了输出端。入时钟SCK上升沿有效一次,直到八位数据输入完毕,输出时钟上升沿有效一次,此时,输入的数据就被送到了输出端。

    DS:串行数据输入,接Arduino的某个数字I/O引脚。 
    Q0~Q7:8位并行数据输出,可以直接控制8个LED,或者是七段数码管的8个引脚。 
    Q7′:级联输出端,与下一个74HC595的DS相连,实现多个芯片之间的级联。 
    74HC595同控制相关的引脚一共有四个:
    SH_CP:移位寄存器的时钟输入。上升沿时移位寄存器中的数据依次移动一位,即Q0中的数据移到Q1中,Q1中的数据移到Q2中,依次类推;下降沿时移位寄存器中的数据保持不变。 
    ST_CP:存储寄存器的时钟输入。上升沿时移位寄存器中的数据进入存储寄存器,下降沿时存储寄存器中的数据保持不变。应用时通常将ST_CP置为低点平,移位结束后再在ST_CP端产生一个正脉冲更新显示数据。 
    MR:重置(RESET),低电平时将移位寄存器中的数据清零,应用时通常将它直接连高电平(VCC)。 
    OE:输出允许,高电平时禁止输出(高阻态)。引脚不紧张的情况下可以用Arduino的一个引脚来控制它,这样可以很方便地产生闪烁和熄灭的效果。实际应用时可以将它直接连低电平(GND)。 
    对于一个最简单的74HC595应用来讲,可以用Arduino的三个数字I/O端口分别控制DS、SH_CP和ST_CP,然后将MR和OE分别接VCC和地。
        其实,看了这么多595的资料,觉得没什么难的,关键是看懂其时序图,说到底,就是下面三步(引用):


       第一步:目的:将要准备输入的位数据移入74HC595数据输入端上。
               方法:送位数据到 P1.0。


       第二步:目的:将位数据逐位移入74HC595,即数据串入
               方法:P1.2产生一上升沿,将P1.0上的数据移入74HC595中.从低到高。


       第三步:目的:并行输出数据。即数据并出
               方法:P1.1产生一上升沿,将由P1.0上已移入数据寄存器中的数据
                     送入到输出锁存器。


        说明: 从上可分析:从P1.2产生一上升沿(移入数据)和P1.1产生一上升沿
              (输出数据)是二个独立过程,实际应用时互不干扰。即可输出数据的
               同时移入数据。


       而具体编程方法为


          如:R0中存放3FH,LED数码管显示“0”


          ;*****接口定义:
          DS_595 EQU P1.0      ;串行数据输入(595-14)
          CH_595 EQU P1.2      ;移位时钟脉冲(595-11)
          CT_595 EQU P1.1      ;输出锁存器控制脉冲(595-12)


         ;*****将移位寄存器内的数据锁存到输出寄存器并显示
    OUT_595:
          CALL WR_595          ;调用移位寄存器接收一个字节数据子程序 
          CLR CT_595           ;拉低锁存器控制脉冲
          NOP
          NOP
          SETB CT_595          ;上升沿将数据送到输出锁存器,LED数码管显示“0”
          NOP
          NOP
          CLR CT_595
          RET


          ;*****移位寄存器接收一个字节(如3FH)数据子程序   
    WR_595: 
          MOV R4,#08H               ;一个字节数据(8位)      
          MOV A,R0                  ;R0中存放要送入的数据3FH       
    LOOP: 
          ;第一步:准备移入74HC595数据
          RLC A                     ;数据移位
          MOV DS_595,C              ;送数据到串行数据输入端上(P1.0)
          ;第二步:产生一上升沿将数据移入74HC595
          CLR CH_595                ;拉低移位时钟 
          NOP                       
          NOP
          setb CH_595                ;上升沿发生移位(移入一数据)


          DJNZ R4,LOOP              ;一个字节数据没移完继续
          RET


       而其级联的应用
             74HC595主要应用于点阵屏,以16*16点阵为例:传送一行共二个字节(16位)
         如:发送的是06H和3FH。其方法是:
         1.先送数据3FH,后送06H。
         2.通过级联串行输入后,3FH在IC2内,06H在IC1内。应用如图二 
         3.接着送锁存时钟,数据被锁存并出现在IC1和IC2的并行输出口上显示。                                                     




         编程方法:
         数据在30H和31H中
         ;MOV 30H,#3FH
         ;MOV 31H,#06H


          ;*****接口定义:
          DS_595 EQU P1.0      ;串行数据输入(595-14)
          CH_595 EQU P1.2      ;移位时钟脉冲(595-11)
          CT_595 EQU P1.1      ;输出锁存器控制脉冲(595-12)


          ;*****串行输入16位数据
          MOV R0,30H
          CALL WR_595          ;串行输入3FH
          nop
          NOP 
          MOV R0,31H
          CALL WR_595          ;串行输入06H
          NOP
          NOP
          SETB CT_595          ;上升沿将数据送到输出锁存器,显示
          NOP
          NOP
          CLR CT_595
          RET


     
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  • 移位控制寄存器74HC595

    2019-04-21 22:34:26
    移位寄存器(带存储数据功能)74HC595的引脚图 74hc595芯片使用方法 关键字:74hc595芯片 74hc595外形图 74595的数据端: QA--QH: 八位并行输出端,可以直接控制数码管的8个段 QH': 级联输出端。将它接下一个595的...

    移位寄存器(带存储数据功能)74HC595的引脚图
    在这里插入图片描述
    74hc595芯片使用方法
    关键字:74hc595芯片
    74hc595外形图

    74595的数据端:

    QA--QH: 八位并行输出端,可以直接控制数码管的8个段
    
    QH': 级联输出端。将它接下一个595的SI端
    
    SI: 串行数据输入端
    

    74595的控制端说明:

    /SCLR(10脚): 低点平时将移位寄存器的数据清零
    
    SCLK(11脚):上升沿时数据寄存器的数据移位。QA-->QB-->QC-->...-->QH;下降沿移位寄存器数据不变。(脉冲宽度:5V时,大于几十纳秒就行了。通常都选微秒级) 。输入控制引脚
    
    RCLK(12脚):上升沿时移位寄存器的数据进入数据存储寄存器,下降沿时存储寄存器数据不变。通常将RCLK置为低点平,当移位结束后,给RCLK端一个正脉冲(5V时,大于几十纳秒就行了。我通常都选微秒级),更新显示数据。输出控制引脚
    
    /OE(13脚): 高电平时禁止输出(高阻态)。如果单片机的引脚不紧张,用一个引脚控制它,可以方便地产生闪烁和熄灭效果。比通过数据端移位控制要省时省力。使能引脚
    
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  • 74hc164中文资料

    2011-11-20 21:08:14
    介绍了串入并出的八位移位寄存器的结构,管脚介绍以及参数说明!
  • 以下所有历程都是用Quartus II工具编写的verilog程序,主要是用来描述数字逻辑中的电路,可以实际拿来使用,都...8、八位移位寄存器 9、可控移位寄存器 10、四位二进制模十计数器 11、三位八进制计数器 12、八位...

    以下所有历程都是用Quartus II工具编写的verilog程序,主要是用来描述数字逻辑中的电路,可以实际拿来使用,都是我经过测试的!

    1、非门

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    2、三线—八线译码器

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    3、四选一数据选择器

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    4、四位二进制数据比较器

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    5、四位数据比较器

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    6、数码管七段码译码器

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    7、D触发器

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    8、八位移位寄存器

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    9、可控移位寄存器

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    10、四位二进制模十计数器

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    11、三位八进制计数器

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    12、八位二进制赋值语句

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    13、状态机实现正方形四段笔按顺序点亮

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    14、频率计

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    15、四位二进制锁存器

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    16、带使能端、清零端输入和进位输出端的十进制计数器

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    17、分频器、分频得到 1KHz 信号

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    18、数码管动态扫描显示

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    19、总结

    大致内容就是这些,如果有什么不懂得可以加群一起探讨 864750551 其他内容可以自己谷歌一下。

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  • 本例是利用74LS164八位移位寄存器(串入、并出)与单片机串行口结合,使数码管静态显示数字“5555”。  (1)数码管显示数字“5555”硬件电路(见图20)。    图20 显示字符“5555”接线原理图  在图20的...
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  • SRCLR(10脚) 低点平时将移位寄存器的数据清零。通常将它接Vcc。 SCK(11脚) 上升沿时移位寄存器的数据移位。下降沿数据不变 RCK(12脚) 上升沿时移位寄存器的数据进入数据存储寄存器,下降沿时 存储寄存器数据...

空空如也

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八位移位寄存器