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  • 晶圆测试厂wafer map管理建议

    千次阅读 2020-07-09 10:47:08
    First / Final / All 需要有查看每一片wafer map以图形方式显示(便于查看具体不良坐标) 需要有同时查看多个片号/批次的map图的功能(map gallery) 需要有叠加多个map图的功能(stack map) 便于分析整个批号/型号...
    1. 按照Recipe设定bin定义
      1. 应有版本管理概念,一般使用最新版本做为活动版本即可
      2. Bin明细中应包含 BinID、BinCode、BinName、BinType、BinColor、Description
        1. BinID可使用数字类型
        2. BinCode可参照实际机台的Bin,用于匹配
        3. 有些公司也将BinID、BinCode理解为SBin和HBin
          1. 即 Software Bin & Hardware Bin
        4. 一般也将BinID对应到客户的Bin
        5. BinType一般有Open、Short、Open/Short
        6. BinType还可以有Skip Bin / Device Fail Bin等
        7. Skip Bin用于在某些情况下固定坐标不测试,默认定义为该Bin
        8. Device Fail Bin 用于在某些情况下,固定坐标不管测试于否,都定义为该不良
    2. 按照Recipe设定良率卡关
      1. 应有版本管控概念,一般使用最新版本做为活动版本即可
      2. 良率卡关可包含一下一些情况
        1. 批良率卡关
        2. 片良率卡关
        3. 连续N片良率小于X卡关
        4. 边缘N圈良率小于X卡关
        5. 单片某个(或某几个)Bin数量<N
        6. 单片某个(或某几个)Bin比例<X
        7. 整批某个(或某几个)Bin数量<N
        8. 整批某个(或某几个)Bin比例<X
        9. 以上良率卡关应该要可以定义其Action
          1. 触发良率卡关时Hold Lot
          2. 触发良率卡关时Hold并通知客户
          3. 触发良率卡关时发行ABN
          4. 触发良率卡关时进入重测流程
    3. 将Recipe关联到产品的站点中
      1. 一般Recipe根据测试程式确认唯一性,即一个Recipe对应一个Program
      2. 一个Recipe可关联到多个产品上
    4. 定义产品的标准map
      1. 一般需要定义标准map的GrossDie、角度、坐标信息
      2. 坐标信息中以以下字符代表含义:
        1. G,有效Die,一般用绿色显示
        2. B,空白Die,一般用透明色或者蓝色、或者白色显示
        3. S,无效Skip Die,一般用紫红色显示
        4. M,Marking Die(用于ink时对准位置等),一般用黄色显示
        5. 以上颜色显示参考于TSK map标准
    5. Map上传
      1. 同类型机台的所有wafer map应由测试部门通过脚本将其集中到某一路径
      2. 集中路径可以是共享网盘也可以是FTP
      3. IT开发程序从该路径中,定时或实时监测新增文件进行处理
      4. 一般该程序设置一定的时延,因为有时map(datalog等)较大,传输需要一定时间
      5. Map上传后应该考虑原始map的备份
        1. 一般按客户、型号、批号、站点 分文件夹进行保存
        2. Map上传失败时,备份到专门的error目录
      6. Map解析处理过程中,一般要进行一些系统卡控,若不满足,则不能上传,或上传后发送系统提醒(消息或邮件)
      7. Map处理过程应由Log记录
        1. 需分级别记录log
          1. 错误的文件类型、文件名、文件夹、批号
          2. Map内容不符合设定的规范
          3. Map内容于系统资料不匹配
          4. Map触发系统相关卡控
    6. Map保存
      1. 按批号+片号+站点+测试次数保存
      2. 默认情况下,同一 批号+片号+站点 的最后一次测试结果设定为Active,但可手动调整
      3. 保存map的title/summary信息,如:
        1. FileName, Device, Program, ProbeCard, GrossDie, GoodQty, FailQty…
      4. 保存map的坐标信息
        1. 可直接按照 ‘,’分割,回车换行的方式存储在数据库中
        2. 如果数据库容量/性能足够强大,可以保存X,Y,Bin,Dut信息到数据库
        3. Blob方式存储的话,可以使用压缩后的数据流再保存,读取的时候先解压
      5. 保存map的bin统计信息
        1. 记录每个Bin的数量及比例,便于后续分析报表
        2. 如:LotNo, WaferNo, OPNo, TestSeq, BinCode, BinQty, BinType, BinYield
    7. 系统卡控
      1. Map上传过程中检查:
        1. 检查当前批次是否确实在该站点运行,不允许跨站点或者lot运行状态不一致时导入map
        2. 检查当前片号是否在系统的当前批次中
        3. Map信息中的ProbeCard是否属于该产品可用
        4. Map信息中的Program是否属于该产品可用
        5. Map信息中的测试时间是否以前上传过
        6. Map的角度与产品是否一致
          1. 某些情况下,如果不一致可能需要系统自动转角度后导入
        7. Map的GrossDie是否与产品一致
        8. Map中的BinCode是否存在于系统预设的BinCode中
        9. Map的内容die位置是否与产品标准map一致
        10. 计算良率卡关,并记录,必要时发送系统通知,或不允许上传
        11. ……
    8. Map展示
      1. 一般可以按批号/片号展示批次的基本信息/良率信息等
      2. 需要有查看每个测试次序的资料,比如TestSeq =2 / First / Final / All
      3. 需要有查看每一片wafer map以图形方式显示(便于查看具体不良坐标)
      4. 需要有同时查看多个片号/批次的map图的功能(map gallery)
      5. 需要有叠加多个map图的功能(stack map)
        1. 便于分析整个批号/型号的不良分布
        2. 可按照同一个坐标的不良数来定义不同颜色,颜色最深处为不良最多的区域
        3. 一般只能查看同一个型号(标准map一样,含角度信息)内的map
      6. 需要有导出wafer map文件的功能
        1. 一般要可以导出机台原始文件格式,以及客户所需map格式
        2. 格式一般有:Excel、Xml、TXT(TMB,UMC…)、TSK等
        3. 导出的map用途,一般是为后段PNP或工程分析使用使用
    展开全文
  • 此软件采用易语言编写(源码),可以转换TSK探针台产生MAP原始文件,转换为BitMAP(bmp图片格式),有兴趣的小伙伴可以下载来测试或是改进,附测试MAP文件。
  • TSK-MAP.rar

    2020-05-11 15:03:03
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  • 主要是bumping 封装厂或前段晶圆厂会用到的wafer map相关的一些处理: @ 可以生成single wafer map @ 可以生成MPW wafer map @ 可以计算gross die per wafer @ 可以生成txt格式的map @ 可以用于bumping mask ...

    这个是小众软件,是基于autocad 二次开发的cad 插件

    主要是bumping 封装厂或前段晶圆厂会用到的wafer map/mask相关的一些处理:

    @ 可以生成single wafer map,计算Gross die

    @ 可以生成MPW wafer map,可以进行mask拼版

    @ 可以生成txt格式的map,并支持转换成sinf通用格式,提供给CP,AOI,DA使用

    @ 可以将相关数据保存至数据库,随时调用查看

    @ 提供面积求和计算

    @ 提供XY坐标标注,自适应标注,自适应文字,自适应引线标注

    @ 提供图形闭合检查  (这个很重要,经常有人将不闭合的图形交给光罩厂导致批量报废)

    @ 提供一键取轮廓线功能

    @ 图形批量倒角,批量修剪,批量偏移,批量矩形转圆形等

    @ DRC 检查(最小线宽 线距 )

    @ 可以自定义图库(将常用图形如mark,frame等以块的形式保存到图库,可以快捷调用)

    @ 批量取bondingBox,批量取几何中心坐标,几何中心画圆,几何中心画矩形等

    以上功能是bumping厂设计部最常用的功能,可以替代重复性的操作,如有需要请加微信:928883241

    以下演示部分小功能:

    single die wafer map generate

    MPW wafer map generate

    展开全文
  • 基于易语言 TSK_wafer map转换源码 采用易语言编写的软件(源码),可以转换TSK探针台产生MAP原始文件,转换为BITMAP(位图格式),bmp图片格式,有兴趣的小伙伴可以下载来测试,附测试MAP文件。 下载链接地址:...

    TSK_wafer map转换源码分享

            本转换软件采用易语言编写(源码),可以转换TSK探针台产生MAP原始文件,转换为BitMAP(bmp图片格式),有兴趣的小伙伴可以下载来测试或者自己改进,附MAP测试文件;注意这个是旧版!!!!

    记得在今年五月份的时候还发过 C语言版的MAP 解析代码(仅支持TSK)】链接如下:

    C语言版MAP解析下载地址:https://download.csdn.net/download/lhcrjkf/12408837

    回归主题下面开始介绍现在所要分享的MAP转换源码,还有就是部分功能还没有写完,,,,如有懂易语言或者有需要的可以下载来测试或者改进完善!!!!!!!

    主界面:

    文件界面:

    旧版下载地址:https://download.csdn.net/download/lhcrjkf/12901161

    新版如下图,采用C# 编写 这个如有需要请联系QQ:1099649453!!!!!!!!!!!

    新版本在旧版本基础上新增加许多功能(比如转换平台等)!

    部分软件截图如下:

     

    展开全文
  • jfreechart wafer map

    2010-01-16 13:41:17
    http://www.java2s.com/CN/Code/Java/Chart/JFreeChartWaferMapChartDemo.htm
    http://www.java2s.com/CN/Code/Java/Chart/JFreeChartWaferMapChartDemo.htm
    展开全文
  • uia-wafermap 如何建造 安装rollup.js软件包。 npm install -g rollup 转到项目目录并安装依赖项... wafer ( 200 , 3 , 9 , 'bottom' ) // wafer size . die ( 3.76 , 3.74 ) // die size . reticle ( 5 , 6 , 0.3
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  • WafermapDisplay

    2020-09-11 00:12:35
    晶圆界面设计,界面图像呈现,缺口设计,切口方向定义。wafermap,多交流,多留言。多沟通。多提出您的宝贵的意见。
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  • TSK-UF200和TSK-90A -MAP转换软件C代码(WaferMap)
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  • mytextStyle={ color:"#333",//文字颜色 fontStyle:"normal",//italic斜体 oblique倾斜 fontWeight:"normal", //文字粗细bold bolder lighter 100 | 200 | 300 | 400... fontFamily:"sans-serif", //字体系列
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  • WaferMapTool.rar

    2021-08-03 14:55:28
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  • 代码 一段较为完整的代码如下: #include "ros/ros.h" #include "std_msgs/String.h" #include "grid_map_core/GridMap.hpp" #include "grid_map_demos/FiltersDemo.hpp" #include "grid_map_ros/...
  • TestMapAnalysisSetup.msi

    2020-08-09 11:38:53
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  • GalaxyWaferMapEditSetup.msi

    2020-08-16 22:16:58
    GalaxyWaferMapEdit工具,支持直接查看tsk原始map文件,支持编辑单个die的分bin信息,批量修改分bin信息,修改完的map可直接被tsk probe调用,支持1024 bin,256site map。直接导出多种格式的map文件,可设置顺时针...
  • GalaxyWaferMapEdit.zip

    2020-04-12 16:48:34
    GalaxyWaferMapEdit工具,支持直接查看tsk原始map文件,支持编辑单个die的分bin信息,批量修改分bin信息,修改完的map可直接被tsk probe调用,支持1024 bin,256site map。支持叠加map。批量导出summary报告;自定义...
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  • react-d3-晶圆图 使用生成一个非常基本的晶圆图的React组件。 D3代码可以在Observable上分叉。 该组件遵循通过Marco Iglesias的出色著作提出的“生命周期方法包装”结构。 此仓库是使用。

空空如也

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