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    2019-05-19 11:12:02

     磁场强度H和磁感应强度B有什么关系

      事实上在近代电磁学中把磁场强度H仅作为描述磁场的一个辅助量,且仅在深入讨论磁介质中的磁场性质时才出现。在某真空环境中,若有一电流I,则其周围空间就充满了磁场,某点的磁场强度可叫H。现在我们设想该电流I不是存在于真空环境中而存在于充满某种材料的空间里,我们可以称材料为磁介质,现在就相当于把磁场H加到某种材料当中,材料受H影响会产生一个附加场,我们把这个过程叫做磁介质的“磁化”,即磁介质有了磁性,也产生了磁场。现在我们进一步设想在磁场中的该点放一试探电流元,那么它感受到就是总磁场而不再是H,试探电流元感受到的总磁场即高中物理教材定义的磁感应强度B。综上所述,可以把磁场强度H和磁感应强度B关系总结如下:

      (1)H是电流I产生的磁场,B是试探电流元实际感受到的磁场。
      (2)H是外场,B是总场,即磁感应强度B应是电流I产生的磁场H和磁介质被磁化产生的磁场M的矢量和。
      (3)磁场强度H和磁感应强度B关系的数学表达可写成:B(r)=H(r)+M(r)(为了方便高中生理解不引入磁导率),r表示空间处某一点,注意上式对磁场中任何一点都成立。
      (4)在空间没有磁介质存在时,也就是当磁化强度M为零时,磁感应强度B=H。
      值得一提的是,从上面的分析我们可以看出磁场强度H和磁感应强度B的单位应该是相同的。磁感应强度的单位是特斯拉,1T=1N/A・m,而很多参考书又会告诉我们磁场强度的单位是A/m。 看似H和B单位的不同,其实仅仅是由于最开始研究力学用的单位,和开始研究电荷、电流的单位完全独立,导致的一种单位换算。既然知道了B和H单位不同只是由于电流和牛顿力学导致的,近代电磁学为了简化,将二者化为相同的单位,这就是电磁学里常用的高斯制。 

     

     为什么把B叫做磁感应强度

      B(r)=H(r)+M(r),上式可以进一步解释,总磁场等于外加磁场和感生的磁场(磁介质磁化产生的附加场)的矢量和,上式中H来源于外场,就叫它磁场强度;M是H磁化感应的,就叫它磁化强度;而B既然表示总场,已经考虑了感应产生的磁化强度M,就称B为磁感应强度。

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  • 手机GPS信号强度的问题biaochang198 Post at 2010/3/31 14:19:41最近一个项目,带GPS,用E4438C测试GPS8通道灵敏度;在其他项目上做到信号强度41左右,我们只有34左右;接收通路为:通孔+SAW(1)+隔直电容+LNA+隔直...

    手机GPS信号强度的问题

    biaochang198 Post at 2010/3/31 14:19:41

    最近一个项目,带GPS,用E4438C测试GPS 8通道灵敏度;在其他项目上做到信号强度41左右,我们只有34左右;

    接收通路为:通孔+ SAW (1)+隔直电容+LNA+隔直电容+SAW (2 )+T型匹配网络+SIF芯片

    天线在bottom面,芯片在top面通过一个通孔打到top面就直接到第一个SAW(1);

    调试中发现提高一个dB输入能提高一个信号强度;

    现在郁闷的是在LNA前测信号强度能到40,但在天线通孔前测试就只有34;

    用网分测试S21,只有1.8左右(SAW spec 损耗为type1.2 );但从实际来说要5-6个dB才感觉才对;现在很迷糊;

    是不是LNA前端匹配没做好?LNA前只有一个隔直电容可调,调过基本没什么影响; 有没有谁有类似经历,指点下;

    Cathyren Post at 2010/3/31 17:12:04

    LNA前端匹配需要添加,调下匹配要是单端的话应该没什么问题的

    fengmo44 Post at 2010/3/31 17:25:32

    是不是环境干扰?

    还有如果你怀疑是LNA 匹配的问题就并一个值很小的件试验下,看信号强度有改善没。有的话就调吧。

    或者你把SAW 拿掉一个或者全拿掉再测试一下。可以先把LNA后面的拿掉,本来就是小信号LNA之后也不会有什么太大的干扰引入

    如果不行就改LAYOUT 吧

    ps3ps2psp Post at 2010/3/31 17:37:49

    我倒是感觉问题在第二个saw和π上,试着拿掉下看看。

    另外没侧过gps,为啥是41和34,不是在-130dbm吗灵敏度?

    biaochang198 Post at 2010/3/31 19:45:45

    关键LNA前面没地方可调,就一个隔直电容;并且这个电容也弄过,基本上没什么变化;问题是在输入端还能到40-41,过一个SAW和通孔就掉到34,35;觉得是不是影响太大;但是我测这段的S21只有1.8dB;比较下网分测试和实际就是2端口阻抗不一样;一个是50ohm,一个是LNA后端电路阻抗(假设焊接的cable和连接仪器的线为理想的50Ohm);所以我觉得比较解析的通就是阻抗失配导致的;不知道还有没有其它什么高见;

    现在的情况是SAW(1)到LNA没有可调的地方;至于π现在正在调试中,目前没什么对结果没有造成什么太大的影响

    fengmo44 Post at 2010/4/1 9:00:27

    那个41和34 是个信噪比

    你可以把SAW 短了看看结果 毕竟这个SAW 是滤除带外干扰的 你直接用传导连上应该影响不大,一点点排除

    guoru8251 Post at 2010/4/1 9:09:04

    你的天线在PCB的BOTTOM面吗?还是??如果是的话 你要把天线断开测试!另外GPS天线一般不能直接LAYOUT在PCB上,这样的话信号很差!

    ps3ps2psp Post at 2010/4/1 12:00:07

    看了半天,那个cn0是40的是在哪测定啊?lna前是指在saw1和隔直那里??

    信号顺序是这样吗:天线+通孔+saw1+。。。。??

    如果是这样,很怀疑你那个通孔的阻抗,从天线到通孔的。

    biaochang198 Post at 2010/4/1 15:45:54

    首先非常感谢大家的关注;

    现在问题定位于一个10层板的通孔,GPS线宽0.2,孔到地的距离0.15;孔到地的距离偏小;在第二层孔不完整;可能会吸收部分能量;现在等待改版验证结果;

    lieren1986 Post at 2010/4/1 16:04:14

    我感觉通常RF信号线通过通孔换层后衰减是很大的,所以一般都会在孔边打个地孔做信号回流路径,只是不知道一般这种过孔的损耗怎么去衡量?

    wei798 Post at 2011/1/23 13:07:45

    [QUOTE][B]以下是引用[i]biaochang198[/i]在2010-4-1 15:45:54的发言:[/B]

    首先非常感谢大家的关注;

    现在问题定位于一个10层板的通孔,GPS线宽0.2,孔到地的距离0.15;孔到地的距离偏小;在第二层孔不完整;可能会吸收部分能量;现在等待改版验证结果;[/QUOTE]

    不仅仅吸收能量造成衰减,而且很容易吸收主地上的干扰恶化灵敏度,射频布板禁忌!

    jasonpeng Post at 2011/2/18 17:37:10

    直接用GPS模块不就解决了吗?何必这么麻烦!可以联系我qq1076488796tel13530020024

    liuyingkai87 Post at 2012/1/31 10:48:49

    学习学习

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  • 什么是磁感应强度?

    2021-07-31 10:26:00
     磁感应强度是用来描述磁场性质的物理量,用B表示。磁场中某点的B的方向是该点的磁场方向,B的大小表示该点磁场强度的强弱。    **磁感应强度**是用来描述磁场性质的物理量,用B表示。磁场中某点的B的方向是该点...

    【摘要】:
      磁感应强度是用来描述磁场性质的物理量,用B表示。磁场中某点的B的方向是该点的磁场方向,B的大小表示该点磁场强度的强弱。
      
      [磁感应强度是用来描述磁场性质的物理量,用B表示。磁场中某点的B的方向是该点的磁场方向,B的大小表示该点磁场强度的强弱。
      
      在SI单位制(国际单位制)中,磁感应强度的单位是[伏特•秒/米2], 而[伏特]•[秒]称为韦伯,所以磁感应强度的单位称为[韦伯/米2]或[特斯拉],简称[特]。在CGSM单位制中,磁感应强度的单位是[高斯]。单位用符号表示:V 为[伏特]、s为[秒]、m为[米]、Wb为[韦伯]、T为[特]、Gs为[高斯]、mT为[毫特]。
        1 T = 1 Wb/m2 = 104 Gs = 103 mT

    磁感应强度**也被称为磁通量密度或磁通密度。在物理学中磁场的强弱使用磁感应强度来表示,磁感应强度越大表示磁感应越强。磁感应强度越小,表示磁感应越弱。

    手持式高斯计

    中文名:磁感应强度
    外文名:magneticfluxdensity
    别称:磁通量密度、磁通密度
    表达式:B=F/IL
    应用学科:物理
    适用领域范围:电磁学

    展开全文
  • 用于荧光强度归一化的方法与流程

    千次阅读 2020-12-31 03:28:52
    本发明涉及一种方法,尤其是一种用于强度归一化的荧光显微镜学或内窥镜成像方法、一种非暂时性计算机可读存储介质以及一种用于内窥镜或显微镜设备的控制器。背景技术:在现有技术中,作为手术显微镜、内窥镜或显微镜...

    本发明涉及一种方法,尤其是一种用于强度归一化的荧光显微镜学或内窥镜成像方法、一种非暂时性计算机可读存储介质以及一种用于内窥镜或显微镜设备的控制器。

    背景技术:

    在现有技术中,作为手术显微镜、内窥镜或显微镜的普通观察设备具有以下缺点:测量的强度,尤其是在基于荧光的观察期间,即荧光强度,受到观察设备的光学设置参数的影响。通常,已知观察设备的灵敏度展示与光学设置参数的函数关系。灵敏度可以例如与光学设置参数中的至少一个成反比。

    因此,如果对荧光强度进行成像,必须非常小心,因为检测的强度是归因于荧光团浓度还是归因于光学设置参数是模糊的。

    技术实现要素:

    因此,本发明的目的是提供一种方法、一种非暂时性存储介质以及一种用于内窥镜或显微镜设备的控制器,其改善了荧光团浓度的确定。

    如果改变至少一个光学设置参数,开头提到的本发明的方法通过自动调节至少一个曝光控制参数来解决上述问题并克服现有技术方法的缺点。

    本发明的非暂时性计算机可读存储介质包括用于执行本发明的方法的至少一个实施例的程序,并因此产生与本发明的方法相同的优点。

    开头提到的本发明的控制器通过包括用于接收表示光学设置参数的光学设置数据的输入部分解决上述问题。光学设置数据尤其包括放大率设置数据和工作距离设置数据中的至少一个,并且控制器还具有用于输出表示曝光控制参数的曝光控制数据的输出部分。曝光控制数据尤其包括包含检测器增益数据、曝光时间数据和光强度数据的组中的至少一个。此外,控制器具有用于依据至少一个光学设置数据确定至少一个曝光控制数据的确定模块。

    本发明的方法、本发明的非暂时性计算机可读存储介质和本发明的控制器允许抵消观察设备的至少一个变化的光学设置参数的影响,其中在没有抵消的情况下,尽管在被检查的样本中具有相同的荧光团浓度,但是仍将测量到改变的强度,尤其是荧光强度。

    因此,消除了改变光学设置参数对检测的强度(荧光强度)的影响,并且观察的样本的恒定(荧光)强度将分别导致图像数据中的或者如用户通过观察构件(例如目镜)观察到的恒定强度值或亮度。

    观察设备的调整尤其是自动执行的,即无需用户交互。

    通过其他实施例可以改进本发明,这些实施例本身是有利的。如果省略的技术特征对于实现本发明的技术效果不是必需的,不同的实施例的技术特征可以彼此任意组合或者可以被省略。

    术语确定或用于确定应被理解为找到或识别位置、大小或值,而不是固定、定义或指定位置、大小或值。

    在以下描述中,作为荧光强度、显微镜或内窥镜或特定光学设置参数或曝光控制参数的表达不应被理解为限制本发明。这些表达应被理解为对强度、光学观察设备和光学设置或曝光控制参数整体的代表。类似地,单数或复数形式不限制保护范围。

    本发明的方法尤其可以使用校准数据来依据至少一个光学设置参数自动调整至少一个曝光控制参数。

    因此,适于执行本发明的方法的该实施例的相应的本发明的控制器可以包括具有先前保存的校准数据的至少一个存储模块。

    校准数据可以被理解为查找表,其将至少一个光学设置参数与至少一个曝光控制参数相互关联或链接。校准数据尤其对光学设置参数或光学设置参数的组合指定曝光控制参数或曝光控制参数的组合。

    因此,校准数据可以被理解为以指定表的形式保存的预定值。

    本发明的方法还可以包括基于至少一个光学设置参数计算至少一个曝光控制参数。

    因此,相应的本发明的控制器可以包括用于基于至少一个光学设置数据计算至少一个曝光控制数据的计算模块。

    除了基于先前保存的校准数据的指定或作为基于先前保存的校准数据的指定的替代,可以执行至少一个曝光控制参数的计算。

    特别地,如果在校准数据中没有提供至少一个光学设置参数,计算模块可以用来基于通过控制器的输入部分提供的至少一个光学设置参数计算至少一个曝光控制参数。

    在另一实施例中,可以在控制器中提供内插模块。因此,相应的方法可以包括基于至少一个光学设置数据内插至少一个曝光控制数据的步骤。

    光学设置参数可以包括工作距离和/或放大率。它们还可以包括表示所使用的物镜的参数。不同的物镜可能产生不同的光学等级,因此可能改变检测到的荧光强度。

    工作距离可被理解为从样本至用于收集光(特别是荧光)的检测光学组件的前端之间的测量距离。检测光学组件可以是物镜。

    因此,考虑以光学设置数据的形式向控制器提供的光学设置参数被应用来确定,即指定和/或计算以曝光控制数据的形式从控制器输出的曝光控制参数,从而防止由于不同的光学设置引起的检测的强度(尤其是荧光强度)的变化,因为它通过本发明的方法和本发明的控制器被抵消。

    因此,光学系统(尤其是诸如物镜的光学检测系统)对检测的强度的影响被自动消除。

    至少一个曝光控制参数尤其可以与至少一个光学设置参数成比例。

    曝光控制参数可以包括包含检测器增益、曝光时间和光强度的组中的至少一个。所述组不应理解为闭合的,并且其他参数可包括在曝光控制参数的组内。

    换言之,如果表示一个光学设置参数(例如放大率)的光学设置数据的值增大,表示一个曝光控制参数(例如,检测器增益)的曝光控制数据的值可以增大。

    因此,包括本发明的控制器或执行本发明的方法的观察设备的灵敏度可以与至少一个光学设置参数成反比。

    灵敏度可以被理解为产生特定的且尤其是可检测的输出信号所需的输入至检测器的信号的最小大小。示例性地,观察设备中的检测器的灵敏度可以被定义为需要入射在限定的检测器表面上以产生可检测的电信号的待检测的光的一定数量的光子。

    例如大的工作距离的特殊设置可以将入射在限定的检测器表面上的光子数量减少至灵敏度阈值以下,并且可以使荧光信号不可检测。本发明的方法和本发明的控制器抵消了强度的降低并防止荧光信号变得不可检测。

    本发明的非暂时性计算机可读存储介质可被实施为基于磁、光或闪存的存储介质。

    控制器可被实施在一个单个集成电路(IC)中,或者可以由如确定模块、存储模块和/或计算模块的单独部件组装。

    存储模块和/或计算模块可以是可替换的,以使得控制器可以应用在不同的观察设备中,其中存储在存储模块中的校准数据和/或在计算模块中存储和执行的计算公式可以容易地被替换并适应于不同的观察设备。

    附图说明

    在下文中,将参考附图描述本发明。图中所示的实施例应被理解为纯粹示例性的,即不限制由权利要求限定的保护范围。附图中所示的实施例描述的技术特征可以根据所附权利要求任意组合和/或省略。相同技术特征和具有相同技术效果的技术特征用相同的附图标记表示。

    图1示出包括本发明的控制器的光学观察设备的示意图。

    具体实施方式

    图1示意性地示出观察设备1,例如内窥镜设备3或显微镜设备5,其中显微镜设备5尤其可被实施为荧光显微镜5a。

    荧光显微镜5a包括光源7,光源尤其可被实施为激光器9,优选地实施为半导体激光器11,其发射穿过望远镜17的照明光15,用于增加光束腰19。

    照明光15通过被实施为物镜23的光学照明组件21。

    光学照明组件21传输照明光15,照明光15照射布置在检测平面27中的样本25。

    样本25包括荧光团29(未单独示出),荧光团由入射照明光15激发并发射荧光31。

    荧光31由也被实施为物镜23的检测光学组件33收集。

    检测光学组件33以放大率35为特征并且被布置在距检测平面27的工作距离37内。

    从检测平面27到检测光学组件33的前端39测量工作距离37。

    应注意,图1中所示的显微镜5a被线性地实施,即光源7、光学照明组件21和检测光学组件33沿同一光轴41布置。在不同的实施例中,照明光15的路径可以基本上定向为垂直于荧光31的路径,即,荧光显微镜5a的配置可以对应于所谓的单个平面照明显微镜或简称SPIM的配置。

    荧光31通过检测光学组件33传输并成像到检测器43上,检测器43可被实施为二维CCD或CMOS传感器45。

    因此,检测光学组件33将荧光图像47(示意性示出的)成像到检测器43上。

    荧光图像47可以显示在查看器49上,查看器49还可被额外地或可选地实施为目镜(未示出)。

    荧光显微镜5a还包括具有确定模块53、存储模块55、内插模块57和计算模块59的控制器51。

    模块55、57、59被连接至确定模块53,其中可以在两个方向上在它们之间交换数据。

    存储模块55包括可以被实施为查找表63的校准数据61,其由图1中的表示意性地指示。可以通过将校准数据61提供在控制器51提供的校准数据输入65处以在存储模块55中存储校准数据61。

    控制器51还包括输入部分67和输出部分69,其中控制器51经由输入部分67接收光学设置数据71。

    光学设置数据71由电子矩形脉冲的序列指示,其中该形状是示例性的并且不限制提供光学设置数据71的形式。

    光学设置数据71分别以放大率设置数据35a和工作距离设置数据37a形式表示诸如检测光学组件33的放大率35以及工作距离37的光学设置参数73。

    这些示例性的两个光学设置参数73经由物镜控制模块75被提供至控制器51的输入部分67。

    图1还示出了额外的输入线77,其被实施为将表示与图1中所示的那些不同的光学设置参数73a的光学设置数据71提供至控制器51。光学设置数据71由具有三角形的脉冲指示以便区分。

    经由输出部分69,控制器51输出曝光控制数据81。

    曝光控制数据81由电子脉冲的序列指示,其中它们的形状也是示例性的,并且不限制由控制器51提供曝光控制数据81的形式。

    曝光控制数据81表示诸如检测器增益89、曝光时间91或光源7的光强度93的曝光控制参数83,它们分别由检测器增益数据89a、曝光时间数据91a和光强度数据93a表示。

    这些示例性三个曝光控制参数83由控制器51在输出部分69处提供,而控制器51包括额外的输出线95,其被实施为将表示不同的曝光控制参数83a的曝光控制数据81提供至控制器51,其不同于图1中所示的那些。曝光控制数据81由具有高斯形状的脉冲表示以便区分。

    因此,控制器51接收表示光学设置参数73的光学设置数据71,尤其包括放大率设置数据35a和工作距离设置数据37a中的至少一个,并且基于所述光学设置数据71确定至少一个曝光控制数据81。该确定基于使用存储模块55中的校准数据61的指定或者基于在计算模块59中执行的计算。

    如果校准数据61不包括精确的光学设置数据71,则内插模块57可以内插曝光控制数据81以通过输出部分69由控制器51输出。

    因此,即使特定光学设置参数73被修改,光强度97(例如由查看器49中示出的荧光图像47的亮度99表示)也保持恒定。

    由控制器51输出的曝光控制数据81可以包括控制数据83a、89a、91a和93a中的一个或组合。

    由图1中所示的荧光显微镜5a执行的本发明方法可被实施为软件实现,即,以存储在非暂时性存储介质101(如图1中所示的CD-ROM 103的实施例)上的程序的形式。

    附图标记

    1 观察设备

    3 内窥镜设备

    5 显微镜设备

    5a 荧光显微镜

    7 光源

    9 激光器

    11 半导体激光器

    15 照明光

    17 望远镜

    19 光束腰

    21 光学照明组件

    23 物镜

    25 样本

    27 检测平面

    29 荧光团

    31 荧光

    33 检测光学组件

    35 放大率

    35a 放大率设置数据

    37 工作距离

    37a 工作距离设置数据

    39 前端

    41 光轴

    43 检测器

    45 二维CCD或CMGS传感器

    47 荧光图像

    49 查看器

    51 控制器

    53 确定模块

    55 存储模块

    57 内插模块

    59 计算模块

    61 校准数据

    63 查找表

    65 校准数据输入

    67 输入部分

    69 输出部分

    71 光学设置数据

    73 光学设置参数

    73a 不同的光学设置参数

    75 物镜控制模块

    77 额外的输入线

    81 曝光控制数据

    83 曝光控制参数

    83a 不同的曝光控制参数

    89 检测器增益

    89a 检测器增益数据

    91 曝光时间

    91a 曝光时间数据

    93 光强度

    93a 光强度数据

    95 额外的输出线

    97 光强度

    99 亮度

    101 非暂时性存储介质

    103 CD-ROM

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    磁感应强度、磁场强度和磁化强度之间的关系 主条目: 磁场 磁场强度   定义为  ; 其中,  是 磁常数 。 对于 抗磁性 物质和 顺磁性 物质,  与   之间的关系通常是 线性关系 :  ; ...
  • 密码强度正则表达式

    2020-01-05 11:12:06
    密码强度正则表达式包含数字,大小写字母,特殊字符至少两项至少三项至少四项 包含数字,大小写字母,特殊字符 特殊字符包含 ~`@#%&<>"',;_-^$.*+?=!:|{}()[]/\ 密码长度8-64个字符,不能包括空格 至少两...
  • Android 蓝牙信号强度RSSI介绍

    千次阅读 2022-05-15 21:29:38
    Received Signal Strength Indication接收的信号强度指示,无线发送层的可选部分,用来判定链接质量,以及是否增大广播发送强度。RSSI(Received Signal Strength Indicator)是接收信号的强度指示,它的实现是在...
  • 信号强度和dBm的对应关系

    千次阅读 2021-08-10 09:19:03
    信号强度和网络数据业务的稳定性关系 信号强度和dBm的对应关系为:信号强度*2-113 = dBm值 信号强度仅仅表示当前驻留小区的网络覆盖程度,一般来说,信号强度和网络通信稳定率是正比关系。信号强度差,网络...
  • 利率、连续复利和利息强度

    千次阅读 2019-12-08 16:49:24
    三、利息强度 总结 一、利率(实际利率和名义利率) 利率就是资本的增长率,其定义如下所示。i表示资本a_t在时间区间h内的增长率,也即利率。这里的利率严格来说,我们称之为实际利率,即表示资本真实的在h内的...
  • 用于提示密码的自定义掩码功能,增加了随着密码强度增加而改变颜色的“强度进度测定”。 使用zxcvbn,这是由dropbox提供的流行密码强度估算工具。
  • 我们发现有不少朋友对照度、发光强度和光通量这三个概念之间的关系总是搞混淆,包括他们各自的含义,以及标识单位。这里,我们就系统的来解读一下。首先,我们来看一下三者各自的名词解释。光通量、照度、亮度的关系...
  • 根据对数运算法则易知,dB值其实是两个dBm值之差,因此给定信号强度的dBm值,想要增大强度就是加一个dB值。 10lg2 = 3,因此3dB是功率折半点。dBm值 + 3dB = dBm值 * 2,加3dB功率翻倍。换而言之,dBm值每差3,...
  • 2、弄清信号强度的定义就行了: RSSI(接收信号强度)Received Signal Strength Indicator Rss=10logP,(mw与dbm转换的关系) 只需将接受到的信号功率P代入就是接收信号强度(灵敏度)。 [例1] 如果发射功率P为1mw...
  • ANSYS应力工具与四大强度理论

    千次阅读 2020-07-05 21:01:11
    在**ANSYS**中求得的应力要依据一定的判断标准,以验证该结构是否发生失效,于是就有了强度理论的概念。**强度理论**就是判断材料在**复杂应力状态**下是否破坏的理论。 材料力学中存在**四种**强度理论,即最大拉...
  • 今天这篇文章不是主要讨论耐压(电介质强度)测试相关的技术问题的,比如测试步骤、测试类型、测试方法、测试注意事项,这些内容在之前的一篇文章已经详细介绍过,今天呢主要针对一个细节进行一下交流,什么细节呢?...
  • 光度学与光相关的常用量有4个:发光强度、光通量、照度、亮度。这4个量尽管是相关的,但为不同的,不能相混。正像压力、重力、压强、质量是不同的物理量一样。1、发光强度(I、Intensity),单位坎德拉,即cd。定义:...
  • GPS信号强度与GPS定位

    千次阅读 2019-06-24 18:30:39
    //监听卫星信号强度 locationManager.addGpsStatusListener(statusListener); } else { /*Toast.makeText(this, "请检查网络或GPS是否打开", Toast.LENGTH_LONG).show();*/ } } GPS信号强度监听 //定义...
  • 密码强度的那些误解

    千次阅读 2022-02-12 21:03:08
    很久很久以前,密码只要6个字符就可以了... 那么密码强度衡量标准是什么?其实就是破解密码时,在密码规则内,穷举所需要的次数,再取次数的lb(以2为底)对数,单位比特。其实这就是我们经常所说的 128(比特)位加密...
  • GSM模块的信号强度

    千次阅读 2018-12-28 14:33:13
    命令解释:检查网络信号强度 命令格式:AT+CSQ&lt;CR&gt; 命令返回:+CSQ: **, ## 其中: **应在 0 到 31 之间(99表示无信号),数值越大表明信号质量越好; ##为误码率,值在 0 到 99...

空空如也

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